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                      • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過(guò)顯微光譜法測量高精度**反射率(多層膜厚度,光學(xué)常數) 1點(diǎn)1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(紫外至近紅外) 區域傳感器的**機制 易于分析向導,初學(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
                      • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過(guò)顯微光譜法測量高精度**反射率(多層膜厚度,光學(xué)常數) 1點(diǎn)1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(紫外至近紅外) 區域傳感器的**機制 OPTM顯微分光膜厚儀 OPTM顯微分光膜厚儀_Otsuka大塚_OPTM-A2OPTM顯微分光膜厚儀_Otsuka大塚_OPTM-A2
                      • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過(guò)顯微光譜法測量高精度**反射率(多層膜厚度,光學(xué)常數) 1點(diǎn)1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(紫外至近紅外) 區域傳感器的**機制 易于分析向導,初學(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚

                      蘇公網(wǎng)安備 32050502000409號

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