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                      KOSAKA小坂全自動臺階儀ET200,ET4000

                      日期:2024-06-15 09:57
                      瀏覽次數:79
                      摘要:KOSAKA小坂全自動臺階儀ET200,ET4000:針對半導體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力分析--KOSAKA小坂臺階儀

                      KOSAKA小坂臺階儀,針對半導體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力分析,

                      株式會社小坂研究所(KOSAKA)是于1950年創立的公司,也是日本**家發表光學杠桿表面粗糙度計,是一家具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為*具代表性單位且在日本精密測定業占有一席無法被取代的地位。



                      全自動臺階儀ET200



                      *大尺寸

                      φ160×厚48mm

                      再現性

                      1σ 1nm以內

                      測定范圍

                      Z:600μm X:100mm

                      分解能

                      Z:0.1nm X:0.1μm

                      測定力

                      10μN~500μN

                      全自動臺階儀ET4000 Series

                       

                       




                      蘇公網安備 32050502000409號

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